半導体関連 測定装置

【開発】φ450mmウェーハ厚さ測定機

FTM-02型

ウェーハ厚さ測定機

TME-07型

SiCウェーハ厚さ測定機

TME-05型

MEMSウェーハ厚み・段差測定機

TME-06型

厚さ測定機

TME-11型

プレート上ウェーハ厚さ測定機

TME-12型

厚さ測定機

TME-13型

厚さ測定機

TME-15型

厚さ測定機

TME-18型

厚さ測定機

TME-21型

厚さ測定機

ATM-01型

ウェーハ厚さ測定機（TMEシリーズ）

TME-02A型/TME-03B型

ウェーハ厚さ測定機

TMR-01型

手動式 厚さ測定機

STM-03型

手動式 厚さ測定機

STM-05型

手動式 厚さ測定機

STM-06型

手動式 厚さ測定機

STM-10型

キャリア厚さ測定機（自動タイプ）

CME-04型

キャリア厚さ測定機（手動タイプ）

CME-05型

キャリア厚さ測定機（半自動タイプ）

CME-06型

キャリア厚さ測定機（自動タイプ）

CME-08型

ウェーハ厚さ仕分け機

WTS-01,02型

ウェーハ厚さ仕分け機

WTS-03型

ウェーハ厚さ仕分け機

WTS-04型

サファイアウェーハ厚さ仕分け機

WTS-05型

非接触式 直径測定器

DMC-01型

非接触式 直径測定器

DMC-02型

半導体基板直径装置

DMC-03型

抵抗率測定機

RTSシリーズ

P/N判定、比抵抗測定仕分機

CJT-01型