半導体関連 検査装置

外観検査装置

ACI-02型

エッジ検査ハンドリング装置

EHI-01型

ガラス欠陥検査装置

GIM-01型

手動バーコード読み取り機

MBR-01型

ウェーハ表面検査機

VSI-01型

ウェーハインスペクション装置　

MWL-01型

ウェハ外観検査装置　

MWL-02型

顕微鏡ローダー

MWL-03型

顕微鏡ローダー

MWL-04型

外観検査装置

SWL-05

マスク検査ステージ

QIS-0１型

外観検査装置　

OSI-01型